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顆粒的粒度與形狀對其產(chǎn)品的性質(zhì)與用途影響很大，因此，粒度與形狀的測量非常必要。例如，水泥的強(qiáng)度與其細(xì)度有關(guān)，磨料的粒度和粒度分布決定其質(zhì)量等級，粉碎和分級 也需要對其粒度進(jìn)行測量。隨著納米級材料的發(fā)展，人們對粒度測量提出了更高的要求。

顆粒粒度測量的主要方法：

直接觀察法：

采用的測量裝置有放大投影器，圖像分析儀，(與光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡相連)，能譜儀(與電子顯微鏡相連) ，測量結(jié)果有粒度分布、形狀參數(shù)。

篩分法：

采用的測量裝置有電磁振動式，聲波振動式，測量結(jié)果有粒度分布直方圖。

沉降法：

重力 采用的測量裝置有比重計、比重天平、沉降天平、光透過式、X射線透過式，測量結(jié)果有粒度分布。

離心力 采用的測量裝置有光透過式、X射線透過式，測量結(jié)果有粒度分布。

激光法：

光衍射 采用的測量裝置有激光粒度儀，測量結(jié)果有粒度分布。

光子相干 采用的測量裝置有光子相干粒度儀，測量結(jié)果有粒度分布。

小孔透過法：

采用的測量裝置有庫爾特粒度儀，測量結(jié)果有粒度分布，個數(shù)計量。

流體透過法：

采用的測量裝置有氣體透過粒度儀，測量結(jié)果有比表面積，平均粒度。

吸附法：

采用的測量裝置有BFT吸附儀，測量結(jié)果有比表面積，平均粒度。

激光法：

激光法是近20年發(fā)展的顆粒測量方法，常見的有激光衍射法和光子相干法。激光粒度儀的優(yōu)點(diǎn)是，重復(fù)性好，測量速度快。其缺點(diǎn)是對幾微米的試樣，該儀器的誤差較大，激光 粒度儀的測量范圍一般為0.5-1000μm。

20世紀(jì)80年代中期，王乃寧等人提出綜合應(yīng)用米氏散射和夫朗和費(fèi)衍射的理論模型，即在小粒徑范圍內(nèi)釆用米氏理論，在大粒徑范闈內(nèi)仍采用夫朗和費(fèi)衍射理論，從而改善小料 徑范圍內(nèi)測量的精度。一般而言，激光法的分辨率不如沉降法。

顆粒形狀的測量:

測量顆粒形狀有兩種方法，一為圖像分析儀，它由光學(xué)顯微鏡、圖像板、攝像機(jī)和微機(jī)組成。其測量范圍為1?lOOμm，若采用體視顯微鏡，則可以對大顆粒進(jìn)行測量，電子顯微 鏡配圖像分析儀，其測量范為0.001-10μm。二為能譜儀，它由電子顯微鏡與能譜儀, 微機(jī)組成，其測量范圍為0.0001~100μm。

上述兩種方法，可測量顆粒的面積、周長及各形狀參數(shù)，由面積、周長可得到相應(yīng)的粒徑，進(jìn)而可得到粒度分布。其優(yōu)點(diǎn)是具有可視性，可信程度高。但由于測量的顆粒數(shù)目有 限，特別是在粒度分布很寬的場合，其應(yīng)用受到一定的限制。